Holt HI-1592 抗辐射 Transceiver 测试达标并发布

Holt测试抗辐射1553双收发器至更高单粒子效应水平

Holt集成电路公司（Holt Integrated Circuits）今日宣布，已对其近期推出的HI-1592进行了测试，将其单粒子效应（SEE）耐受水平提升至更高等级。HI-1592是一款3.3V抗辐射MIL-STD-1553双收发器，专为高可靠性及太空应用设计。单粒子效应包括单粒子瞬态（SET）、单粒子功能中断（SEFI）、单粒子锁定（SEL）和单粒子烧毁（SEB），这些效应由重离子或质子撞击引发，可能对电子元件造成暂时或永久性损坏。

HI-1592具备抗锁定能力，经测试可承受线性能量转移（LET）至少为86.3 MeV·cm²/mg的单粒子翻转（SEU），而此前的测试结果为67.7 MeV·cm²/mg。此次测试由Holt联合德克萨斯州农工大学（College Station, Texas）的零重力辐射保障实验室（Zero-G Radiation Assurance）共同完成。该器件的总电离剂量（TID）耐受能力达100 krad(Si)。更高的LET评级意味着其在采用MIL-STD-1553数据总线通信的运载火箭、高空飞行器或太空应用中，具备更强的稳健性。

该器件还具有兼容1.8V、2.5V和3.3V的数字输入/输出（I/O）功能。这一特性为用户电路设计提供了更大的灵活性，使其能与多种现场可编程门阵列（FPGA）和控制器接口连接，无需使用电平转换器及其他额外电路。HI-1592是HoltDO-254认证级MIL-STD-1553协议芯片（HI-6300）的理想搭配，该协议芯片可在抗辐射FPGA中实例化。

HI-1592采用24引脚密封陶瓷小外形集成电路（SOIC）封装，工作温度范围扩展至-55℃至+125℃，并可提供老化测试、100%粒子碰撞噪声检测（PIND）测试选项，且符合MIL-PRF-38535 QML Q级标准。

如需了解Holt的ARINC 429、离散量-数字量/驱动器、MIL-STD-1553及其他产品线信息，读者可致电021-5109 8665联系Holt在中国的正式授权代理唯隆（WALAEY)公司工作人员，或发送电子邮件至cs@walasey.com。